鍍層測(cè)厚儀分類
綜合性能：鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析：可分析三層厚度,獨(dú)有的FP分析軟件,真正做到無(wú)厚度標(biāo)準(zhǔn)片亦能進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量（需要配合純材料）,為您大大節(jié)省購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)片的成本。完全超越其他品牌的所謂FP軟件。
鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)藥液。
鍍層測(cè)厚儀分類
定性定量分析：可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量。
光譜對(duì)比功能：可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度。
統(tǒng)計(jì)功能：能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì)。
鍍層測(cè)厚儀使用方法
上電→設(shè)置測(cè)量參數(shù)→進(jìn)入測(cè)試界面→放置待測(cè)薄膜→啟動(dòng)測(cè)量→測(cè)量結(jié)束→打印輸出測(cè)量結(jié)果→試驗(yàn)結(jié)束注：測(cè)量?jī)x有記憶功能，若下次測(cè)量參數(shù)與上次相同，可直接進(jìn)入測(cè)量，無(wú)須再進(jìn)行參數(shù)設(shè)置。
鍍層測(cè)厚儀使用方法
測(cè)厚儀是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。 
鍍層測(cè)厚儀
http://www.szmilum.com/SonList-146103.html
https://www.chem17.com/st8652/erlist_146103.html